Mit der W4F bringt Sick eine Miniatur-Lichtschranken der nächsten Generation auf den Markt. Eine neue Asic-Plattform bringt der Produktfamilie Performance-Zugewinn. So erfassen die Sensoren nach Herstellerangaben auch tiefschwarze, hochspiegelnde, flache oder transparente Objekte zuverlässig. Zudem kann die W4F Abstandsinformationen bereitstellen, z. B. zur Höhe von Objekten, und so Prozessfehler erkennen. "Erste Anwender attestieren den Lichtschranken zugleich die beste Fremd- und Sonnenlichtunterdrückung am Markt – und höchste Störfestigkeit gegen alle bekannten optischen Störungen", gibt das Unternehmen an. Das Blue-Pilot-Bedienkonzept sowie innovative Monitoring-Möglichkeiten machen die Einstellung und Überwachung der Sensoren einfach. Das spart Zeit bei der Inbetriebnahme. IO-Link und neue smarte Funktionen zur Sensorüberwachung und -diagnose schaffen die Verbindung in die digitalisierte Maschinen- und Applikationswelt. Alles zusammen bedeutet nach Sick-Angaben: maximale Performance auf minimalem Bauraum, zuverlässiges Schaltverhalten, Prozess- und Zukunftssicherheit – auch in neuen Anwendungen, die sich der W4F eröffnen.
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Talk about SPS 2021 - Highlights mit Sick
Zur SPS 2021 hatte Sick den Launch seiner neuen Miniatur-Lichtschrankengeneration W4F geplant. Im "Talk about SPS-Highlights" erläutert Tobias Güttler, Group Manager bei Sick, die Besonderheiten und Einsatzmöglichkeiten der neuen Reihe. Das Gespräch führte Inge Hübner, Redakteurin beim VDE VERLAG.